▶ 검사 / 시험장비 보유현황

번호 설 비 명 구 분 형 식 규 격 수 량 구입년도 설비제작처 국산 외산 X*Y*Z 1 비접촉 3차원 측정기   O GALILEO 300*200*140 1 2009 STALLET 2 경도계   O 마이크로비커스 MXT-α7 1 2011 FUTURE TECH (JAPAN) 3 평탄도측정기 O   비접촉 - 1 2011 AMSYS 4 투영기(Projector) 　 O PJ-300 0.001mm 1 2006 MITUTOYO 5 석 정 반 O 　 GSP-01 1500*1000 mm 1 2006 UNITEC 6 하이트게이지   O 0.01~300 mm 0.02/0.01 2 2006 MITUTOYO 7 다이얼인디케이터 　 O 0.001 mm 0.001 5 2006 MITUTOYO 8 외경마이크로미터   O 0~300 mm 0.01 10 2005 MITUTOYO 9 외경마이크로미터   O 0~25 mm 0.001 1 2004 MITUTOYO 10 내경마이크로미터   O 200~1500 mm 0.001 1 2005 MITUTOYO 11 버어니어켈리퍼스   O 0~300mm 0.01 15 2006 MITUTOYO 12 핀 게이지   O Φ1.55~Φ6.275 0.025 2 2003 MITUTOYO 13 핀 게이지 (BOX당 0.5 mm)   O Φ0.50~Φ6.00 0.01 각12set 2004 MITUTOYO 14 초경 블럭게이지   O 0.5~100 mm 0.01 2 2005 MITUTOYO 15 정밀전자저울 O 　 EC-3 / CS-5 0.2g~3kg/1g~5kg 2 2008 CAS 16 3D 장비   O QV X302 300*200*200     MITUTOYO 17 공구 현미경   O VML 400 400*300*200     3D Family