설비현황 > 검사/시험장비
 
 
▶ 검사 / 시험장비 보유현황
번호 설 비 명
구 분 형 식 규 격 수 량 구입년도 설비제작처
국산 외산 X*Y*Z
1 비접촉 3차원
측정기
  O GALILEO 300*200*140 1 2009 STALLET
2 경도계   O 마이크로비커스 MXT-α7 1 2011 FUTURE TECH
(JAPAN)
3 평탄도측정기 O   비접촉 - 1 2011 AMSYS
4 투영기(Projector)   O PJ-300 0.001mm 1 2006 MITUTOYO
5 석 정 반 O   GSP-01 1500*1000 mm 1 2006 UNITEC
6 하이트게이지   O 0.01~300 mm 0.02/0.01 2 2006 MITUTOYO
7 다이얼인디케이터   O 0.001 mm 0.001 5 2006 MITUTOYO
8
외경마이크로미터
  O 0~300 mm
0.01 10 2005 MITUTOYO
9
외경마이크로미터
  O 0~25 mm 0.001 1 2004 MITUTOYO
10
내경마이크로미터
  O 200~1500 mm 0.001 1 2005 MITUTOYO
11
버어니어켈리퍼스
  O 0~300mm 0.01 15 2006 MITUTOYO
12
핀 게이지
  O Φ1.55~Φ6.275 0.025 2 2003 MITUTOYO
13
핀 게이지
(BOX당 0.5 mm)
  O Φ0.50~Φ6.00 0.01 각12set 2004 MITUTOYO
14
초경 블럭게이지
  O 0.5~100 mm
0.01 2 2005 MITUTOYO
15 정밀전자저울 O   EC-3 / CS-5 0.2g~3kg/1g~5kg 2 2008 CAS
16 3D 장비   O QV X302 300*200*200     MITUTOYO
17 공구 현미경   O VML 400 400*300*200     3D Family